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利用时间分辨Ar K壳层发射光谱诊断内爆靶丸芯区电子温度

蒲昱东  
【摘要】:在神光Ⅱ装置上的内爆实验中,通过在充D2气体的靶丸中掺Ar,利用晶体谱仪配条纹相机测量得到了内爆停滞阶段Ar K壳层发射光谱随时间的变化。在实验中,观测到Ar的Heα、Heβ以及Lyα线发射,持续时间大约200ps。我们利用NLTE碰撞辐射模型来分析实验数据。针对靶丸芯区的温度、密度范围,在模型中我们考虑了从裸核到类C电离态,其中类Be、类B、类C只考虑了基态,同时考虑了类He、类Li的双激发态。各原子参数,包括能级,电子碰撞电离、激发截面、自发辐射系数、自电离系数等都由FAC(Flexible Atomic Code)计算得到。通过求解速率方程,从理论上计算出Heα线与Lyα线强度比值随电子温度、密度的变化。通过将实验上观测到的Heα线与Lyα线强度比与理论计算值相比较,推断出芯区电子温度随时间的演化,为进一步研究内爆过程奠定了一定的基础

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