CR系统中曝光指数与X线曝光量的相关性初探

【摘要】：正曝光指数是CR系统内部的曝光计量表根据入射到IP板上的X线平均照射量做出的相对估算值,主要用于核定摄影技术条件正确与否的。随着数字影像系统CR的广泛应用,为得到优质的图像,曝光指数成为了数字影像技术的重要研究对象。国内尚未有关于EI的相关文献。

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