半导体器件抗辐射涂层研究
【摘要】:正随着核技术、空间技术的发展,大量电子设备和系统被置于核反应辐射和其它核环境下进行工作。核反应时产生的中子、γ射线和核电磁脉冲以及空间辐射中的电子、质子和高能粒子都能造成电子器件及电子系统的损伤。其中,1975 年发现的单粒子效应是重要核辐射效应;其主要是由高能质子、中子、α粒子和重荷粒子等引起半导体器件的软错误,目前已成为影响运行在轨道系统的微电
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