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扫描力显微镜观察铁电畴的成像模式对比

戴林杉  包生祥  王志红  李松霞  
【摘要】:正 在纳米尺度铁电畴的研究中扫描力显微镜(SFM)已经成为一种主要的手段。其中,运用较广泛的成像模式主要有三种:电力显微镜(EFM)、压电力显微镜(PFM)、非线件介电显微镜(Scanning Nonlinear Dielecric Microscopy,SNDM)。本文对以上三种模式的原理和特点进行对比分析。

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