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MRI及DWI在新生儿低血糖脑损伤中的应用

郭庆清  许祖梅  李梅芳  
【摘要】:目的:探讨新生儿低血糖脑损伤的MRI特征及扩散加权成像(DWI)在低血糖脑损伤诊断中的应用价值。方法:回顾性分析9例经临床确诊的新生儿低血糖脑损伤病例的MRI资料,所有病例均在出生后1~7d行MRI检查,除外同时伴有缺氧缺血性脑病,严重颅内出生血,颅内感染(行腰椎穿刺脑脊液化验),脑发育异常,败血症,先天代谢性疾病(血氨、血乳酸、尿遗传代谢筛查等)及内分泌疾病(激素测定等)的患儿。扫描序列包括常规T1WI、T2WI、FLAIR及DWI序列。结果:1病变部位受累部位双侧顶枕叶皮层及皮层下白质8例,胼胝体受累5例,侧脑室旁脑白质受累4例,基底节受累2例,尾状核头部受累1例。其中4例表现为弥漫性脑损伤,损伤部位广泛累及脑皮质及皮质下白质。所有患儿小脑与脑干均未见明显异常。2MRI表现常规T1WI表现为受累部位稍低信号4例,稍高信号1例;7例T2WI表现为受累部位稍高信号或灰白质分界不清。9例行DWI扫描均发现斑片状、条状及脑回样高信号,胼胝体及基底节病变于常规T1WI及T2WI信号改变不明显,表现为DWI高信号。其中两例T1WI、T2WI呈等信号,只有在DWI呈高信号。3患儿血糖水平9例患儿入院后检测血糖水平在0.2~1.8mmol/l,平均约0.95mmol/l。结论:低血糖是新生儿时期最常见的代谢紊乱之一,可引起较为严重的后遗症。因此,早期诊断早期干预对预后尤为重要,在影像学上新生儿低血糖脑损伤以双侧枕顶叶后部脑组织及胼胝体压部最常受累,常对称性分布,具有定特征性,在日常工作中,发现该部位异常信号,应考虑到本病可能。DWI序列较常规T1WI及T2WI在低血糖脑损伤的发现及评估上更具优越性,对临床诊断和指导治疗具有重要价值。

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