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全谱ICP-AES多谱拟合功能的验证及其在稀土产品纯度分析中的应用

崔爱端  
【摘要】:使用美国瓦里安公司的725-ES全谱ICP-AES仪器验证了其多谱拟合功能的背景校正,基体效应校正以及干扰元素校正的情况,并利用此功能测定了La_2O_3,CeO_2,Pr_6O_(11),Nd_2O_3,Sm_2O_3中的稀土杂质以及(LaCe)_XO_Y,(Pr Nd)_XO_Y中的稀土杂质。使La_2O_3,CeO_2,Pr_6O_(11),Nd_2O3,Sm_2O_3中的稀土杂质的测定下限大大降低,(Lace)_XO_Y,(Pr Nd)_XO_Y的配分发生改变时,使用统一的基体匹配得以校正。

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