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一种基于自选择状态的折叠计数器BIST方案

吴义成  梁华国  李松坤  黄正峰  易茂祥  
【摘要】:提出了一种基于选择逻辑电路实现自选择折叠计数器状态转移的BIST方案,它是在基于折叠计数器的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,并通过设计的选择电路来控制折叠距离的选取,从而实现了确定的与原测试集相等的测试模式生成.本方案不仅实现了测试数据的压缩,而且成功避开了冗余的无用向量,以达到减少大量的测试时间的目的.实验结果证明,建议的方案不仅具有较高的测试数据压缩率,而且能够非常有效地减少测试应用时间.

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