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一种嵌入式存储器的内建自修复机制

付祥  王达  李华伟  胡瑜  李晓维  
【摘要】:嵌入式存储器正逐渐成为SoC的主体结构,对嵌入式存储器设计内建自测试和内建自修复结构是降低制造成本,提高SoC成品率和可靠性的有效方法。本文介绍一种分段列冗余的软修复机制,并分析该修复机制的性能、面积开销。

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