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应用于逻辑核的BIST关键技术研究

李吉  徐勇军  韩银和  李晓维  
【摘要】:随着集成电路工艺进入深亚微米阶段后,电路复杂度的不断提高,特别是片上系统 (system on achip,SOC)的不断发展,主要包括验证测试和制造测试的芯片测试,正在面临着巨大的挑战,传统的使用自动测试设备的测试方法越来越不能满足测试需要。各种用于提高芯片可测试性的可测性设计(dcsign for testability,DFT)方法被提出,其中逻辑内建自测试(logic built in self test, LBIST)方法已经被证明为大规模集成电路(VLSI)和SOC测试的一项有效的可测试性设计方法。本文首先对Logic BIST的基本原理结构进行介绍,然后对其在实践应用中的一些难点问题进行详细分析,最后给出针对一款高性能通用处理器实验结果。

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