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面向存储器核的内建自测试

檀彦卓  徐勇军  韩银和  李华伟  李晓维  
【摘要】:作为结构化可测性设计策略(structured design for test)的一种,存储器内建自测试 (memory built-in self-test,MBIST)已经成为当前针对嵌入式随机存储器(E-RAM)测试的一种经济有效的途径。它实质是BIST测试算法在芯片内部的硬件实现,即所谓的“片上BIST测试结构”, 作为E-RAM核与芯片系统其他逻辑电路的接口,负责相应的测试及控制功能,最终实现片上E-RAM 的自动测试。基于一个实际项目:一种面向嵌入式CPU应用的芯片的设计,本文较系统地介绍了RAM 系统模型、常见存储器故障模型、测试算法、MBIST的设计结构、原理及其实现过程,并针对数据背景选择、响应分析机制、测试开销等给出了定量和定性的讨论。

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