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大规模数字集成电路标准矩阵功能测试新方法

徐拾义  
【摘要】:对于VLSI(Very Large Scale Integration)芯片的用户来说,通常不可能了解其内部详细逻辑结构及实现方法,而只知道它们的基本逻辑功能。因此,对VLSI的测试造成一定的困难。本文提出了一种对VLSI电路功能测试的方法,可以同时检测和定位VLSI电路输入和输出端(Input /Output Pins)上的固定故障(Stuck-at-fault)和桥接故障(Bridging Fault)。本文提出的测试和定位方法仅需要被测电路的基本逻辑功能等信息,而不需要知道它们的内部逻辑结构。因而,对于简化测试过程,降低测试成本和提高测试效率具有十分重要的使用价值和实际意义。

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