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基于不确定门延迟的瞬态电流测试自动测试生成

邝继顺  汪昱  魏小芬  
【摘要】:本文基于逻辑门的实际延迟可能与其标称值不同这样一个事实,提出了一种新的瞬态电流测试生成方法。在该方法中,我们采用了基于遗传算法的贝叶斯优化算法,提出了新的适应函数,并用一种称之为伪概率的方法来生成第一代测试向量。通过用基于布尔过程的波形模拟器实验证明,即使逻辑门的实际延迟在其标称值的50%到150%的范围内随机取值,采用新方法所生成的测试向量仍然是有效的,并且使遗传算法中群体的规模减少了25%。

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