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纳米粒度测定用标准样品的研制与定值

方建锋  柳春兰  李晓冬  
【摘要】:利用水热法合成了一种纳米粒度测量用标准样品--纳米二氧化硅溶胶,该标准样品适合目前常用的纳米粒度测定法,如透射电子显微镜(TEM)法、光子相关谱(PCS)法以及X射线小角散射(XSAS)法, 主要用来对利用这些方法测量纳米颗粒粒度分布的设备进行校验。利用正交试验法研究了合成标准样品的最佳工艺参数,在最佳的工艺参数下合成的标准样品的平均粒径为62.6纳米,粒度分布的均方差为12.6nm(XSAS 法测定的结果),同时应用透射电镜法和光子相关谱法及X射线小角度散射法对该标准样品进行了粒度测量, 实验结果表明这三种方法测定的标准样品的平均粒度十分吻合。

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