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CuO-CeO_2/Al_2O_3催化剂中铜物种微观结构的XAFS表征

罗金勇  孟明  邹志强  胡天斗  谢亚宁  刘涛  
【摘要】:利用X射线吸收精细结构(XAFS)技术研究了焙烧温度对CuO-CeO2/Al2O3催化剂结构的影响。结果表明,不含CeO2催化剂500℃焙烧后Cu以CuO形式存在,Cu-O键长为0.196nm,而在650℃下生成表面尖晶石物种,平均Cu-O原子间距下降至0.193nm。CeO2的加入增强了样品的热稳定性.500℃和650℃焙烧后 Cu均以CuO形式存在,对应的键长(0.196nm)和配位数(4)基本不变;当提高焙烧温度至800℃时, CuO-CeO2/Al2O3催化剂中Cu-O原子间距降至0.192nm,配位数升高至4.6,一部分Cu进入四面体中心,生成类似体相CuAl2O4的物种,导致CO氧化活性的急剧下降。

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