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平面型256元InGaAs线列焦平面组件性能

陈郁  李永富  唐恒敬  朱耀明  邵秀梅  李雪  
【摘要】:将平面型InGaAs探测器光敏芯片与两路128元CTIA读出电路耦合,采用集成热电致冷封装制备了256×1元InGaAs探测器组件,并利用自行搭建的焦平面测试系统对组件的性能进行了测试分析,获得了焦平面组件的各项关键性能参数。焦平面组件在50ms积分时间下,像元响应非均匀性为1.69%,响应率和探测率分别达到了0.85A/W和5.44E+12cmHz1/2/W。

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