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单粒子效应误差注入仿真技术研究

徐飞  王巍  
【摘要】:基于SRAM基础的FPGA器件在空间科技领域越来越受到人们的关注,但是其很容易受到单粒子翻转(SEU)效应的影响,在分析了抗SEU加固的基础上,提出了一种基于FPGA的单粒子效应误差注入仿真技术,以验证FPGA器件在辐照情况下的可靠性。

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