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李欢李建英赵学童许学良  
【摘要】:本文采用商用ZnO压敏电阻片,对其进行大电流冲击老化,通过宽带介电谱、扫描电子显微镜(SEM)、等手段研究了ZnO压敏电阻片冲击老化前后的微观结构、介电性能的变化。


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