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国产半导体器件长期贮存试验研究

高兆丰  高金环  徐立生  
【摘要】:本文通过对北方实验室条件下贮存25年的国产商用高频小功率晶体管进行研究.找到三种失效模式。考虑到现代技术可消除的因素(或已焊接使用),计算预计80年代的国产商用器件储存失效率水平小于10~(-7)/h。

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