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低功耗BIST设计中的加权DS-LFSR测试生成方法研究

谈恩民  叶宏  施文康  
【摘要】:本文首先分析了加权伪随机测试生成和双速线性反馈移位寄存器(DS-LFSR,Dual-speed Linear Feedback Shift Reg- ister)的原理,然后对 DS-LFSR 的结构进行了改进。在此基础上,把加权测试生成与改进型 DS-LFSR 在结构上结合起来。将高权值(大于1/2)端口与慢速 LFSR(SLFSR,Slow LFSR)对应连接,而其他权值端口与常速 LFSR(NLFSR,Normal-Speed LFSR)相连,以此来降低被测电路输入端口所加测试矢量的翻转密度,从而降低测试功耗并减少测试长度。对 ISCAS’85基准电路的实验结果表明,在测试矢量长度的缩短和测试功耗(以 WSA(Weighted Switching Activity)表征)的降低两方面,本文提出的测试结构都取得了明显的效果,证明了其可行性。

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