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用扫描压电显微术观察不同掺杂PZT薄膜的铁电畴分布

舒剑  于艳菊  巴龙  
【摘要】:我们用扫描压电显微术,观察了未掺杂和掺 La、Eu 的 PZT 的铁电畴分布,结果表明:在自发极化下,用溶胶 -凝胶法得到的 PZT,(Pb_(0.93)La_(0.07))(Ti_(0.6)Zr_(0.4))O_3,(Pb_(0.95)Eu_(0.05))(Zr_(0.52)Ti_(0.48))O_3和(Pb_(0.9)Eu_(0.1))(Zr_(0.52)Ti_(0.48))O_3的表面铁电畴呈现较大的不同,掺 La 和掺 Eu 的样品均比未掺杂的有较大的自发极化。含 Eu 为5%时自发极化强度最高, 且大部分畴界位置与晶界接近。通过改变加在探针上交变电压的幅值,观察铁电畴衬度的变化,可以看到,当交变电压升高时,某些畴变得不稳定,极化方向不同于自发极化,而衬度随交变电压线性增加,表明该区域晶粒在垂直方向贯通膜面,矫顽力高于外电场,且无明显的缺陷所致的压电性损失。

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