MoCVD GaAs外延层中“布纹状”缺陷分析
【摘要】:正 金属有机物化学气相沉积法(MOCVD)是半导体材料生长的一门新技术,MOCVD材料在半导体激光器等方面有着重要作用。本文用的材料是生长在掺In半绝缘GaAs上的GaAs外延膜。用扫描电镜的阴极荧光(CL)模式观察,发现有大量黑线缺陷组成“布纹状”图形。这些黑线缺陷大致沿两个互相垂直的(110)方向,如图1,一个方向较密,另一个方向较稀疏。图2是横断面的TEM照片,显示有大量位错网络存在。有的网络从衬底一直沿伸生长到处延层,有的是外延层内产生的。平面(001)样品显示的位错网络与SEMCL像相符。用衍衬法确定这些位错主要是60°位错,是滑移形成的。X射线双晶衍射发现此材料有万分之三的晶格
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