太赫兹电光检测的研究
【摘要】:电光检测是太赫兹检测方法中的一种,本文以闪锌矿结构的ZnTe(110)为检测晶体,发现影响这种方法的因素主要有两个,一个是太赫兹辐射与探测光的速度不匹配,另一个是晶体晶向和太赫兹辐射与探测光偏振方向的夹角。通过理论研究得出ZnTe作为探测晶体适宜的厚度为500~1000μm,适宜的晶向为(110),太赫兹辐射和探测光偏振方向的夹角最佳值为90°和0°。
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