22 A MeV Fe离子在C_(60)薄膜中形成潜径迹的Raman谱分析
【摘要】：用能量为22AMeV的快Fe离子辐照了多层堆叠的C_(60)薄膜,用Raman散射技术分析了快Fe离子在C_(60)薄膜中由强电子激发引起的效应,主要包括辐照引起C_(60)分子的聚合及其高温、高压相(HTHP)的形成,和在高电子能损下C_(60)晶体点阵位置上的C_(60)分子向非晶碳的转变,由此演绎出了快Fe离子在C_(60)薄膜中的损伤截面或潜径迹截面σ和潜径迹的半径Re,及其随沉积在电子系统的能量密度的变化规律。
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罗捷;孙友梅;侯明东;段敬来;常海龙;刘杰;;快重离子辐照金红石型TiO_2的肿胀效应及化学蚀刻行为研究[J];原子核物理评论;2011年03期 |
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