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基于SRAM的XILINX FPGA单粒子翻转的测试和试验方法研究

田文波  章斌  
【摘要】:基于SRAM的XILINX FPGA的资源丰富、结构复杂,在对其进行的单粒子试验中,只有针对其特点,设计相应的单粒子试验的测试程序才能系统、准确地获取该类芯片的单粒子特性,为抗辐加固设计提供依据,为该类芯片在航天领域的使用打下基础。

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