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毕大炜张正选张帅俞文杰陈明  
【摘要】:本文采用注硅的方法加固SIMOX(注氧隔离)SOI(绝缘体上硅)材料,分别用加固和未加固的材料制作了Pseudo-MOS晶体管和nMOS晶体管并进行了10kevX射线总剂量辐照实验。结果表明加固工艺能有效提高SIMOX材料的抗总剂量辐射能力,同时也表明Pseudo-MOS方法能有效的替代实际的MOS晶体管对材料的总剂量辐射效应进行表征。


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