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La_(0.5)Sr_(0.5)CoO_(3-δ)薄膜的制备及其电学性能

张利文  丁铁柱  王强  姜涛  
【摘要】:采用离子束溅射法在氧化钇稳定的氧化锆 (YSZ)和 SiO_2衬底上溅射 La_(0.5)Sr_(0.5)CoO_(3-δ)薄膜,测试了不同工艺制备的 La_(0.5)Sr_(0.5)CoO_(3-δ)薄膜样品的 XRD 谱和电导率.分析了薄膜表面微结构以及电学性能.结果表明:在 YSZ 衬底上生长的 La_(0.5)Sr_(0.5)3CoO_(3-δ)薄膜随着热处理温度的升高取向增强,当薄膜经过750℃热处理后结晶度最好;各样品直流电导率在低温段的 Arrhenius 曲线近似为直线,表明材料的导电行为符合小极化子导电机制:交流电导率在低频段(<100kHz)电导率主要是靠晶界导电贡献的,而在高频区(>100kHz),样品对交流电响应更加明显,电导率主要是靠晶粒导电贡献的。

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