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基于漏电流故障模型的集成电路测试方法研究

王香芬  高成  付桂翠  
【摘要】:在现代集成电路测试中,漏电流是一项很重要的指标,基于漏电流故障的模型可以快速发现CMOS制造工艺的缺陷。本文首先介绍了漏电流故障模型的特点,阐述了基于漏电流故障模型对集成电路进行漏电流测试的测试原理、测试集生成及测试方法。在此基础上,系统研究了电路静态漏电流、输入漏电流、输出高阻漏电流的测试方法。

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1 王香芬;高成;付桂翠;;基于漏电流故障模型的集成电路测试方法研究[A];第一届中国微电子计量与测试技术研讨会论文集[C];2008年
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