由核电荷数依赖的原子核中子皮厚度关系获取对称能密度依赖

【摘要】：正提出了一个基于由反质子原子方法得到的一系列核的中子皮厚度的数据约束对称能的密度依赖的方法。首先,给出原子核的中子皮厚度与原子核的电荷数和同位旋不对称度两者的相关性,并从已有的由反质子原子方法得到的一系列核的中子皮厚度的数据得到这些原子核的中子皮厚度与这些原子核的电荷数和同位旋不对称度的最佳关联系数。然后,采用推广的Thomas-Fermi近似(ETF2)结合Skyrme能量密度泛函和库仑能量密度方法系统地计算这些核的中子皮厚度。分别采用了66种Skyrme力系统地计算了这些核的中子皮厚度与他们的电荷数和同位旋不对称度的关联系数。通过与从实验数据得到的最佳关联系数的比较,最终得到对称能密度的斜率L的范围是16 MeVL66 MeV,同时给出满足这一范围的Skyrme力。