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软X射线PHA阵列在HL-2A上的应用

张轶泼  刘仪  杨进蔚  宋先瑛  袁国梁  李旭  杨青巍  潘传红  
【摘要】:HL-2A装置上新发展了一套基于硅漂移探测器和软件多道分析器的软X射线脉冲高度分析(PHA)阵列,用于等离子体电子温度剖面和电子速率分布的测量,在HL-2A装置2008—2009年度实验期间投入使用。测量表明:电子温度剖面在欧姆(OH)阶段较平缓,接近抛物线1.0×[1—(r/a)~2]~2;而在ECRH阶段电子温度变得峰化;在ECRH期间有大量的超热电子产生,电子速率分布被显著改变。利用射线跟踪代码TORAY和软X射线谱理论,对ECRH功率沉积区域和软X射线能谱进行了模拟,模拟结果与PHA阵列测量结果相符。实验分析表明:在ECRH(纵场B_t=1.3 T)期间,辅助加热效果明显,ECRH的功率主要沉积在等离子体中心附近;电子温度剖面在ECRH阶段较OH阶段峰化;ECRH期间有大量的超热电子产生,电子速率分布被改变成为非麦克斯韦分布。

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