混合电路贮存失效模式及机理和贮存可靠性评价方法

【摘要】：本文系统地分析和总结了混合电路在贮存中的失效模式及机理,温度、湿度以及化学等因素是导致贮存失效的主要原因,混合电路贮存失效表现出大量的因工艺和设计等缺陷导致芯片/元件粘接、键合、封装等非贮存磨损失效的缺陷导致失效。论述了缺陷消除或控制法、贮存寿命加速试验法、标准单元结构评估预计法、自然贮存试验法等评价贮存可靠性的方法,为如何评估/评价混合电路贮存可靠性提供了思路和参考。

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前20条

1	来萍;李萍;张晓明;李少平;徐爱斌;施明哲;牛付林;郑廷珪;;50例微波器件失效分析结果汇总与分析[J];固体电子学研究与进展;2005年04期
2	汪洋;莫云绮;何为;林均秀;徐玉珊;万永东;;BGA焊点失效分析[J];印制电路信息;2008年07期
3	成家宝;电子元器件应用过程的质量控制[J];湖北工学院学报;2002年04期
4	陈圣俭,赵天策;一种模数混合电路故障诊断新方法[J];微电子学与计算机;2004年11期
5	王胜林;李斌;吴鹏;;半导体器件失效分析研究[J];陕西师范大学学报(自然科学版);2006年S2期
6	陈险峰;陈文桥;王玉科;苏凤莲;郭强;简维廷;;NROM器件位线失效分析[J];中国集成电路;2009年08期
7	陈柳;俞宏坤;曾韡;彭雅芳;;N&K多功能薄膜分析仪在OLED失效分析中的应用[J];液晶与显示;2010年04期
8	何况;秦会斌;杨已青;;发光二极管寿命预测技术[J];杭州电子科技大学学报;2011年01期
9	彭苏娥;失效分析结果在元器件可靠性设计中的应用[J];电子产品可靠性与环境试验;1998年03期
10	徐清发;半导体器件失效分析[J];半导体技术;1984年01期
11	郑鹏洲;混合集成电路可靠性[J];微电子学与计算机;1986年01期
12	万向荣;电子仪器失效(故障)分析[J];电子质量;2005年09期
13	刘宏;大工业电子元器件应用过程中的质量控制与失效分析[J];电子质量;2005年11期
14	王恩亮;沈元隆;;基于神经网络的混合电路故障检测[J];通信技术;2010年06期
15	毛均泓;;扫描声学显微镜在半导体封装失效分析中的应用及前景[J];华东科技;2010年11期
16	肖诗满;李少平;;凸台式PIN二极管失效分析和键合工艺改进[J];电子与封装;2010年12期
17	郑石平;罗惟惟;;一种微带隔离器的失效原因定位分析[J];电子机械工程;2011年04期
18	苏世民;;高密度、高性能IC封装的现状及发展趋势[J];微纳电子技术;1993年06期
19	王少卿,徐其迎;数模混合电路中的“地跳动”问题研究[J];信息技术;2003年12期
20	郭小伟;;集成电路封装可靠性与失效分析[J];中国集成电路;2003年04期

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前10条

1	黄云;恩云飞;杨丹;;混合电路贮存失效模式及机理和贮存可靠性评价方法[A];第十一届全国可靠性物理学术讨论会论文集[C];2005年
2	蒋祖良;葛永明;滕有玺;;金属间化合物对半导体器件可靠性的影响[A];2010’全国半导体器件技术研讨会论文集[C];2010年
3	来萍;李萍;张晓明;郑廷珪;李少平;;微波组件和模块失效分析结果统计与分析[A];第十四届全国混合集成电路学术会议论文集[C];2005年
4	马丽利;;黑焊盘有关问题探讨及失效案例分析[A];2009第十三届全国可靠性物理学术讨论会论文集[C];2009年
5	雷志锋;冯敬东;;LED失效及其原因分析[A];2007'第十二届全国可靠性物理学术讨论会论文集[C];2007年
6	蔡伟智;;半导体照明光源——发光二极管失效机理探讨[A];2007年中国（厦门）LED照明与装饰论坛暨城市夜景建设研讨会论文集[C];2007年
7	韩银和;李华伟;李晓维;;芯片的失效分析及基于其的测试调度技术[A];第十届全国容错计算学术会议论文集[C];2003年
8	任辉;杨邦朝;苏宏;顾永莲;蒋明;;BGA焊点的失效分析及热应力模拟[A];第十四届全国混合集成电路学术会议论文集[C];2005年
9	范士海;;关于元器件“失效现象不复现”的原因初探[A];第十一届全国可靠性物理学术讨论会论文集[C];2005年
10	陈媛;李少平;;芯片剥层技术在集成电路失效分析中的应用[A];2009第十三届全国可靠性物理学术讨论会论文集[C];2009年

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前2条

1	周龙早;半导体照明封装的热量管理及失效分析研究[D];华中科技大学;2010年
2	蒋益明;金属有机双层膜传质规律及其机理研究[D];复旦大学;2006年

中国硕士学位论文全文数据库

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1	章鸣;纳米探针在超大规模集成电路可靠性和失效分析中的应用[D];复旦大学;2009年
2	李勇;失效分析技术于多芯片封装中的应用[D];复旦大学;2009年
3	丁美斌;电真空器件非工作状态长期贮存寿命评价研究[D];东南大学;2005年
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8	郑晓刚;深亚微米集成电路制造中的失效分析应用[D];天津大学;2010年
9	林兆莹;失效分析在DRAM产品中的应用[D];天津大学;2010年
10	章其波;基于DES理论的数模混合电路可测试性研究[D];合肥工业大学;2003年

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前2条

1	本报记者海艳娟　编译;印刷电子为业界打开一扇窗[N];中国新闻出版报;2010年
2	徐驰编译;将两路信号混合的加法电路[N];电子报;2010年

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