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提取集成电路热阻参数试验方法研究

钟征宇  焦慧芳  温平平  
【摘要】:本文从老化筛选模型入手,阐述了老化模型参数热阻的重要性。基于热阻测量原理, 给出了常见的热阻测量方法,同时分析了各测量方法的优缺点。在此基础上提出了一种新颖的封装热阻估计实验方法,虽然本方法不能精确地测量出国产VLSI的热阻值,但给出了一种国产VLSI封装热阻数据的获取方法。实验证明这种方法具有较强的实用性,不失为一种国产VLSI热阻参数快速确定的工程技术。

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