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128×128 InSb红外焦平面阵列噪声温度特性分析

郭强  刘俊明  王巍  
【摘要】:实验利用变温杜瓦装置改变128×128 InSb阵列的工作温度,通过测试系统对其噪声进行采集。经过测试和分析,重点研究了InSb红外焦平面阵列的噪声与工作温度的关系,给出了阵列噪声与工作温度的关系曲线。研究表明,红外焦平面阵列的噪声随工作温度的升高而变大。当工作温度在77~107 K时,噪声随温度增加趋势比较缓慢;当工作温度达到107 K并继续升高时,红外焦平面阵列噪声急剧上升;当工作温度超过127 K时,阵列接近饱和。

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