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《第二届红外成像系统仿真测试与评价技术研讨会论文集》2008年
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红外焦平面探测器光谱响应率测量方法分析

李福巍  张运强  
【摘要】:光谱响应率是红外焦平面探测器的重要参数,它决定了系统的整体性能和应用方向。在红外成像系统的研制过程中,必须准确地了解探测器的该项指标。分析了目前已有的红外焦平面探测器光谱响应率的测量方法,并对这些方法进行比较,找出其优缺点。
【作者单位】:中国空空导弹研究院
【分类号】:TN215

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