基于单片机的半导体激光器应用控制技术
【摘要】:针对半导体激光器(LD)应用领域十分广泛的特点,提出了一种新型LD功率(P)-电流(I)-电压(V)的自动测试方法。该方案采用华邦51系列单片机(SCM)W78E58BP作为控制核心,实现了高稳定度的LD连续及脉冲驱动、恒流控制及功率、电压采集。LD控制单元中,应用负反馈技术实现注入电流I f、驱动电压Vf和光功率PO的高稳定控制,电流控制精度为±0.1%;单片机控制电信号的放大、保持和采集,模拟、数字相结合,提高了信号处理的精度。最后,给出了通过RS-232接口对LD进行PIV测试的曲线及相关参数的测试结果,并给出了误差分析。该测试方法已得到广泛应用。
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