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《第二十一届计算机工程与工艺年会暨第七届微处理器技术论坛论文集》2017年
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一种基于UVM可重用的多语言验证平台

计永兴  张晓冬  
【摘要】:本文提出一种基于UVM方法学的可重用的多语言混合的验证平台,相比传统的验证平台在重用性、随机性方面更强、显著提升了验证效率和质量等特点。现在该平台已应用于一款处理器的高速PCIE接口转换模块,得到了期望的覆盖率,满足设计要求。
【作者单位】:上海高性能集成电路设计中心
【分类号】:TP332

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