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《2003年纳米和表面科学与技术全国会议论文摘要集》2003年
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磁力显微镜磁畴成像中形貌影响的实验观察和模拟

曾慧中  包生祥  王志红  李言荣  
【摘要】:正 磁力显微镜(MFM)自问世起,便成为研究磁性体磁畴结构的有力工具。研究表明磁力显微镜的横向分辨率制约于磁性针尖半径、针尖抬举高度以及样品表面平整度。为了减少样品表面起伏对磁畴结构成像的影响,通常采用抬举模式,以获取明暗对比的磁畴像。本工作在软磁薄膜的MFM分析中,观察到形貌像中凸起部分也可以在磁畴像

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