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BIST可测性设计的低功耗技术

李金凤  汪滢  辛晓宁  
【摘要】：在BIST测试过程中,测试电路的加入使得数字系统的功耗明显加大,低功耗的BIST设计得到人们的广泛关注。本文介绍几种BIST的低功耗设计技术,各种方法的综合应用会使系统的功耗指标达到最佳。

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