收藏本站
《中国仪器仪表学会第三届青年学术会议论文集(上)》2001年
收藏 | 手机打开
二维码
手机客户端打开本文

工业C超图像的特征提取方法研究

马宏伟  
【摘要】:提出了基于边界点的特征提取方法,利用C超图像中缺陷区域的外边界坐标信息,能够快速、准确地提取其几何特征和灰度统计特征。
【作者单位】:西安科技学院机械工程系
【分类号】:TH878

中国知网广告投放
 快捷付款方式  订购知网充值卡  订购热线  帮助中心
  • 400-819-9993
  • 010-62791813
  • 010-62985026