一种基于Loopback结构的RFIC内建自测试方法

【摘要】：本文针对系统芯片上RF电路测试接口不足以及测试时间过长等问题,提出了一种可编程CMOS衰减器,并将其应用在基于Loopback结构的内建自测试电路中。通过软件对可编程CMOS衰减器和包含Loopback测试电路的RF系统进行仿真,分析这种方法的可行性。实验结果表明,基于Loopback结构的内建自测试(BIST)电路可以正确的测量出系统故障。这种BIST方法可以应用在生产测试中,减少测试时间降低测试成本。

下载App查看全文

下载全文更多同类文献

PDF全文下载

CAJ全文下载

(如何获取全文？欢迎：购买知网充值卡、在线充值、在线咨询)

CAJViewer阅读器支持CAJ、PDF文件格式，AdobeReader仅支持PDF格式

	【相似文献】
	【相似文献】

中国期刊全文数据库

前20条

1	张惠国;徐彦峰;曹正州;于大鑫;于宗光;;FPGA逻辑资源重配置测试技术研究[J];固体电子学研究与进展;2011年03期
2	谈恩民;詹琰;;结合预确定距离的BIST测试矢量优化[J];微电子学与计算机;2011年09期
3	欧阳一鸣;牛丽义;梁华国;;片上网络通信架构的BIST测试方法[J];电信科学;2011年08期
4	胡为东;;USB 3.0物理层测试中的一致性模式和环回模式介绍[J];国外电子测量技术;2011年08期
5	张志超;侯立刚;吴武臣;;基于March C+算法的SRAM BIST设计[J];现代电子技术;2011年10期
6	许川佩;胡旭;;一种片上网络路由测试方法研究[J];微电子学与计算机;2011年07期
7	吴孝银;;基于减少确定位的动态LFSR重新播种方法[J];宿州学院学报;2011年05期
8	;[J];;年期
9	;[J];;年期
10	;[J];;年期
11	;[J];;年期
12	;[J];;年期
13	;[J];;年期
14	;[J];;年期
15	;[J];;年期
16	;[J];;年期
17	;[J];;年期
18	;[J];;年期
19	;[J];;年期
20	;[J];;年期

中国重要会议论文全文数据库

前10条

1	崔伟;冯建华;;一种基于Loopback结构的RFIC内建自测试方法[A];第十四届全国容错计算学术会议(CFTC'2011)论文集[C];2011年
2	梁华国;方祥圣;;一种基于折叠计数器优化播种的BIST方案[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
3	付祥;王达;李华伟;胡瑜;李晓维;;一种嵌入式存储器的内建自修复机制[A];第四届中国测试学术会议论文集[C];2006年
4	杨婷;邝继顺;;基于测试片段间转移的低功耗BIST实现[A];第四届中国测试学术会议论文集[C];2006年
5	朱彦卿;何怡刚;阳辉;刘美容;王玺;;一种高速ADC静态参数的内建自测试结构[A];第四届中国测试学术会议论文集[C];2006年
6	张弘;李康;;一种可编程MBIST结构的设计与实现[A];第20届测控、计量、仪器仪表学术年会论文集[C];2010年
7	杨懿;周瑞华;黄维康;;变长序列重复播种内建自测试方案探讨[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
8	王颖;陈禾;;FFT处理器的内建自测试方法研究[A];2006北京地区高校研究生学术交流会——通信与信息技术会议论文集（上）[C];2006年
9	谈恩民;刘建军;钱文武;施文康;;基于SoC的BIST静态功耗优化设计[A];2007'中国仪器仪表与测控技术交流大会论文集（二）[C];2007年
10	雷加;刘伟;;模数混合信号的可测性设计方法研究[A];中国仪器仪表学会第九届青年学术会议论文集[C];2007年

中国博士学位论文全文数据库

前10条

1	朱敏;电子系统内建自测试技术研究[D];哈尔滨工业大学;2010年
2	孙秀斌;混合信号电路故障诊断的内建自测试（BIST）方法研究[D];电子科技大学;2004年
3	徐磊;基于SOC架构的可测性设计方法学研究[D];清华大学;2002年
4	杨德才;算术运算电路的通路时延故障测试[D];电子科技大学;2008年
5	肖继学;基于累加器的DSP数据通路的内建自测试技术的研究[D];电子科技大学;2007年
6	李杰;低功耗内建自测试（BIST）设计技术的研究[D];东南大学;2004年
7	李锐;低功耗内建自测试设计方法研究[D];东南大学;2005年
8	詹文法;系统芯片外建自测试技术研究[D];合肥工业大学;2009年
9	朱彦卿;模拟和混合信号电路测试及故障诊断方法研究[D];湖南大学;2008年
10	潘张鑫;或—符合逻辑系统的可测性设计与测试[D];浙江大学;2007年

中国硕士学位论文全文数据库

前10条

1	胡少飞;基于MT-6000系统级模拟与验证的技术研究[D];长沙理工大学;2012年
2	程旺燕;基于等确定位切分的SoC内建自测试方法研究[D];合肥工业大学;2010年
3	马俊程;SATA内建自测试的电路设计与实现[D];西安电子科技大学;2007年
4	翟明静;基于March C+算法的存储器内建自测试自测试设计与仿真[D];哈尔滨理工大学;2009年
5	胡志国;基于折叠计数器的集成电路低功耗BIST研究[D];合肥工业大学;2006年
6	陈萍;数字电路的多种子内建自测试及测试复用研究[D];华南师范大学;2005年
7	谢天助;基于边界扫描的内建自测试技术及其应用[D];重庆大学;2005年
8	胡晓宇;液晶驱动控制芯片可测性设计方法学研究[D];华中科技大学;2005年
9	邓小飞;基于I_（DDT）的BIST测试向量生成器的研究[D];湖南大学;2006年
10	孟庆;SOC设计中IP核的测试方法与应用[D];浙江大学;2004年

	快捷付款方式		订购知网充值卡	订购热线	帮助中心
	微信支付支付宝银行卡	知网卡在线购卡更多>>	免费送卡上门银行汇款购卡邮局汇款购卡	400-819-9993 010-62982499 010-62783978	常见问题在线咨询阅读器下载	充值中心知网卡新手指南