一种基于Loopback结构的RFIC内建自测试方法

【摘要】：本文针对系统芯片上RF电路测试接口不足以及测试时间过长等问题,提出了一种可编程CMOS衰减器,并将其应用在基于Loopback结构的内建自测试电路中。通过软件对可编程CMOS衰减器和包含Loopback测试电路的RF系统进行仿真,分析这种方法的可行性。实验结果表明,基于Loopback结构的内建自测试(BIST)电路可以正确的测量出系统故障。这种BIST方法可以应用在生产测试中,减少测试时间降低测试成本。

【作者单位】：北京大学微电子学系北京大学深圳研究生院集成微系统重点实验室
【基金】：国家自然科学基金(60576030)
【分类号】：TN407

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