收藏本站
《第十四届全国容错计算学术会议(CFTC'2011)论文集》2011年
收藏 | 手机打开
二维码
手机客户端打开本文

一种基于Loopback结构的RFIC内建自测试方法

崔伟  冯建华  
【摘要】:本文针对系统芯片上RF电路测试接口不足以及测试时间过长等问题,提出了一种可编程CMOS衰减器,并将其应用在基于Loopback结构的内建自测试电路中。通过软件对可编程CMOS衰减器和包含Loopback测试电路的RF系统进行仿真,分析这种方法的可行性。实验结果表明,基于Loopback结构的内建自测试(BIST)电路可以正确的测量出系统故障。这种BIST方法可以应用在生产测试中,减少测试时间降低测试成本。

手机知网App
【相似文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 张惠国;徐彦峰;曹正州;于大鑫;于宗光;;FPGA逻辑资源重配置测试技术研究[J];固体电子学研究与进展;2011年03期
2 谈恩民;詹琰;;结合预确定距离的BIST测试矢量优化[J];微电子学与计算机;2011年09期
3 欧阳一鸣;牛丽义;梁华国;;片上网络通信架构的BIST测试方法[J];电信科学;2011年08期
4 胡为东;;USB 3.0物理层测试中的一致性模式和环回模式介绍[J];国外电子测量技术;2011年08期
5 张志超;侯立刚;吴武臣;;基于March C+算法的SRAM BIST设计[J];现代电子技术;2011年10期
6 许川佩;胡旭;;一种片上网络路由测试方法研究[J];微电子学与计算机;2011年07期
7 吴孝银;;基于减少确定位的动态LFSR重新播种方法[J];宿州学院学报;2011年05期
8 ;[J];;年期
9 ;[J];;年期
10 ;[J];;年期
中国重要会议论文全文数据库 前10条
1 崔伟;冯建华;;一种基于Loopback结构的RFIC内建自测试方法[A];第十四届全国容错计算学术会议(CFTC'2011)论文集[C];2011年
2 梁华国;方祥圣;;一种基于折叠计数器优化播种的BIST方案[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
3 付祥;王达;李华伟;胡瑜;李晓维;;一种嵌入式存储器的内建自修复机制[A];第四届中国测试学术会议论文集[C];2006年
4 杨婷;邝继顺;;基于测试片段间转移的低功耗BIST实现[A];第四届中国测试学术会议论文集[C];2006年
5 朱彦卿;何怡刚;阳辉;刘美容;王玺;;一种高速ADC静态参数的内建自测试结构[A];第四届中国测试学术会议论文集[C];2006年
6 张弘;李康;;一种可编程MBIST结构的设计与实现[A];第20届测控、计量、仪器仪表学术年会论文集[C];2010年
7 杨懿;周瑞华;黄维康;;变长序列重复播种内建自测试方案探讨[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
8 王颖;陈禾;;FFT处理器的内建自测试方法研究[A];2006北京地区高校研究生学术交流会——通信与信息技术会议论文集(上)[C];2006年
9 谈恩民;刘建军;钱文武;施文康;;基于SoC的BIST静态功耗优化设计[A];2007'中国仪器仪表与测控技术交流大会论文集(二)[C];2007年
10 雷加;刘伟;;模数混合信号的可测性设计方法研究[A];中国仪器仪表学会第九届青年学术会议论文集[C];2007年
中国博士学位论文全文数据库 前10条
1 朱敏;电子系统内建自测试技术研究[D];哈尔滨工业大学;2010年
2 孙秀斌;混合信号电路故障诊断的内建自测试(BIST)方法研究[D];电子科技大学;2004年
3 徐磊;基于SOC架构的可测性设计方法学研究[D];清华大学;2002年
4 杨德才;算术运算电路的通路时延故障测试[D];电子科技大学;2008年
5 肖继学;基于累加器的DSP数据通路的内建自测试技术的研究[D];电子科技大学;2007年
6 李杰;低功耗内建自测试(BIST)设计技术的研究[D];东南大学;2004年
7 李锐;低功耗内建自测试设计方法研究[D];东南大学;2005年
8 詹文法;系统芯片外建自测试技术研究[D];合肥工业大学;2009年
9 朱彦卿;模拟和混合信号电路测试及故障诊断方法研究[D];湖南大学;2008年
10 潘张鑫;或—符合逻辑系统的可测性设计与测试[D];浙江大学;2007年
中国硕士学位论文全文数据库 前10条
1 胡少飞;基于MT-6000系统级模拟与验证的技术研究[D];长沙理工大学;2012年
2 程旺燕;基于等确定位切分的SoC内建自测试方法研究[D];合肥工业大学;2010年
3 马俊程;SATA内建自测试的电路设计与实现[D];西安电子科技大学;2007年
4 翟明静;基于March C+算法的存储器内建自测试自测试设计与仿真[D];哈尔滨理工大学;2009年
5 胡志国;基于折叠计数器的集成电路低功耗BIST研究[D];合肥工业大学;2006年
6 陈萍;数字电路的多种子内建自测试及测试复用研究[D];华南师范大学;2005年
7 谢天助;基于边界扫描的内建自测试技术及其应用[D];重庆大学;2005年
8 胡晓宇;液晶驱动控制芯片可测性设计方法学研究[D];华中科技大学;2005年
9 邓小飞;基于I_(DDT)的BIST测试向量生成器的研究[D];湖南大学;2006年
10 孟庆;SOC设计中IP核的测试方法与应用[D];浙江大学;2004年
 快捷付款方式  订购知网充值卡  订购热线  帮助中心
  • 400-819-9993
  • 010-62791813
  • 010-62985026