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《第五届中国测试学术会议论文集》2008年
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数字软IP核评测与认证方法和流程

孙加兴  孟德刚  周俊  
【摘要】:随着基于IP核复用的SoC设计方法学的发展和IP核产品市场的不断扩大,对于国内芯片设计业来说,IP核质量问题带来的风险变得日益突出。本文以国家IP核标准为基础,介绍了CSIP建立的IP核评测与认证系统CQIP2.0,并努力用其去解决IP核质量难以评估的问题,形成业内IP核质量评测标准,促进芯片设计业的发展。
【作者单位】:信息产业部软件与集成电路促进中心(CSIP)
【基金】:电子发展基金信运部[2007]595号
【分类号】:TN407

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