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《第五届中国测试学术会议论文集》2008年
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关于串行A/D转换器静态参数测试技术的研究

李明明  
【摘要】:本文以芯片PCF8591为测试样品,详细概述了串行I~2C总线的工作原理以及芯片内部A/D转换器的功能运作。并在此理论基础上,通过对混合信号集成电路测试技术的研究及应用,并与数字信号仿真文件转化技术的有效结合,从而实现了对该串行A/D转换器线性参数的测试。
【作者单位】:北京微电子技术研究所
【分类号】:TN792

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