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《第五届中国测试学术会议论文集》2008年
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FM发射芯片测试技术研究

刘炜  石志刚  张琳  
【摘要】:本文以一款通用FM发射芯片为例,简单描述了相关集成电路的测试理论,详细介绍了如何利用测试系统实现对其载波频率、内嵌ADC进行测试的测试方法。
【作者单位】:北京华大泰思特半导体检测技术有限公司
【分类号】:TN492

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