收藏本站
《第五届中国测试学术会议论文集》2008年
收藏 | 手机打开
二维码
手机客户端打开本文

基于内容可寻址存储器的存储器内建自修复方法

谢远江  王达  胡瑜  李晓维  
【摘要】:随着缺陷密度增加,在存储器中设计冗余行或冗余列替换有缺陷的存储器单元,成为提高存储器成品率的常用方法。然而基于冗余行或冗余列的修复方法不仅对冗余资源的利用率较低,冗余分析算法较复杂,且受限于存储器生产厂商提供的冗余资源结构。本文提出了一种使用内容可寻址存储器作为冗余字来替代故障字,使用冗余行和冗余列分别修复行/列地址译码故障的修复方法。本文所提的冗余设计和分配方案简单易行,冗余资源和CAM的面积开销小,不仅便于扩展到不同类型的存储器,且不受限于厂商提供的冗余资源,且对高失效密度存储器具有更好的修复效果。实验结果表明,这种修复方法在获得同样修复效率的情况下,冗余资源和CAM面积开销最小为已有二维冗余修复方法的25%左右。

手机知网App
【同被引文献】
中国期刊全文数据库 前3条
1 苏彦鹏;薛忠杰;须自明;韩磊;;一种改进的嵌入式存储器测试算法[J];微计算机信息;2007年02期
2 李军科,张俊,顾亚平;BCH分组码原理、实现及纠错性能分析[J];仪器仪表学报;2004年S1期
3 任爱玲,凌明,吴光林,李锐;一种用于嵌入式内存测试的高效诊断算法[J];应用科学学报;2005年02期
中国硕士学位论文全文数据库 前2条
1 任爱玲;嵌入式memory内建自测试算法[D];东南大学;2005年
2 姚俊;基于BIST的嵌入式存储器可测性设计算法研究[D];哈尔滨工程大学;2007年
【二级参考文献】
中国期刊全文数据库 前1条
1 鉴海防,王占和,李印增,张昭勇;SoC嵌入式flash存储器的内建自测试设计[J];微电子学与计算机;2005年04期
【相似文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 张惠国;徐彦峰;曹正州;于大鑫;于宗光;;FPGA逻辑资源重配置测试技术研究[J];固体电子学研究与进展;2011年03期
2 谈恩民;詹琰;;结合预确定距离的BIST测试矢量优化[J];微电子学与计算机;2011年09期
3 欧阳一鸣;牛丽义;梁华国;;片上网络通信架构的BIST测试方法[J];电信科学;2011年08期
4 张志超;侯立刚;吴武臣;;基于March C+算法的SRAM BIST设计[J];现代电子技术;2011年10期
5 许川佩;胡旭;;一种片上网络路由测试方法研究[J];微电子学与计算机;2011年07期
6 吴孝银;;基于减少确定位的动态LFSR重新播种方法[J];宿州学院学报;2011年05期
7 ;[J];;年期
8 ;[J];;年期
9 ;[J];;年期
10 ;[J];;年期
中国重要会议论文全文数据库 前10条
1 谢远江;王达;胡瑜;李晓维;;基于内容可寻址存储器的存储器内建自修复方法[A];第五届中国测试学术会议论文集[C];2008年
2 崔伟;冯建华;;一种基于Loopback结构的RFIC内建自测试方法[A];第十四届全国容错计算学术会议(CFTC'2011)论文集[C];2011年
3 梁华国;方祥圣;;一种基于折叠计数器优化播种的BIST方案[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
4 付祥;王达;李华伟;胡瑜;李晓维;;一种嵌入式存储器的内建自修复机制[A];第四届中国测试学术会议论文集[C];2006年
5 杨婷;邝继顺;;基于测试片段间转移的低功耗BIST实现[A];第四届中国测试学术会议论文集[C];2006年
6 朱彦卿;何怡刚;阳辉;刘美容;王玺;;一种高速ADC静态参数的内建自测试结构[A];第四届中国测试学术会议论文集[C];2006年
7 张弘;李康;;一种可编程MBIST结构的设计与实现[A];第20届测控、计量、仪器仪表学术年会论文集[C];2010年
8 杨懿;周瑞华;黄维康;;变长序列重复播种内建自测试方案探讨[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
9 王颖;陈禾;;FFT处理器的内建自测试方法研究[A];2006北京地区高校研究生学术交流会——通信与信息技术会议论文集(上)[C];2006年
10 谈恩民;刘建军;钱文武;施文康;;基于SoC的BIST静态功耗优化设计[A];2007'中国仪器仪表与测控技术交流大会论文集(二)[C];2007年
中国博士学位论文全文数据库 前10条
1 朱敏;电子系统内建自测试技术研究[D];哈尔滨工业大学;2010年
2 孙秀斌;混合信号电路故障诊断的内建自测试(BIST)方法研究[D];电子科技大学;2004年
3 徐磊;基于SOC架构的可测性设计方法学研究[D];清华大学;2002年
4 杨德才;算术运算电路的通路时延故障测试[D];电子科技大学;2008年
5 肖继学;基于累加器的DSP数据通路的内建自测试技术的研究[D];电子科技大学;2007年
6 李杰;低功耗内建自测试(BIST)设计技术的研究[D];东南大学;2004年
7 李锐;低功耗内建自测试设计方法研究[D];东南大学;2005年
8 詹文法;系统芯片外建自测试技术研究[D];合肥工业大学;2009年
9 朱彦卿;模拟和混合信号电路测试及故障诊断方法研究[D];湖南大学;2008年
10 潘张鑫;或—符合逻辑系统的可测性设计与测试[D];浙江大学;2007年
中国硕士学位论文全文数据库 前10条
1 胡少飞;基于MT-6000系统级模拟与验证的技术研究[D];长沙理工大学;2012年
2 程旺燕;基于等确定位切分的SoC内建自测试方法研究[D];合肥工业大学;2010年
3 严冰;高速嵌入式动态随机存储器可编程内建自测试设计及优化[D];复旦大学;2012年
4 詹琰;加权内建自测试(BIST)设计中的多目标优化技术研究[D];桂林电子科技大学;2011年
5 马俊程;SATA内建自测试的电路设计与实现[D];西安电子科技大学;2007年
6 翟明静;基于March C+算法的存储器内建自测试自测试设计与仿真[D];哈尔滨理工大学;2009年
7 胡志国;基于折叠计数器的集成电路低功耗BIST研究[D];合肥工业大学;2006年
8 陈萍;数字电路的多种子内建自测试及测试复用研究[D];华南师范大学;2005年
9 谢天助;基于边界扫描的内建自测试技术及其应用[D];重庆大学;2005年
10 胡晓宇;液晶驱动控制芯片可测性设计方法学研究[D];华中科技大学;2005年
 快捷付款方式  订购知网充值卡  订购热线  帮助中心
  • 400-819-9993
  • 010-62791813
  • 010-62985026