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《第五届中国测试学术会议论文集》2008年
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头脑风暴-模拟和混合信号测试的机遇和挑战(英文)

夏曙  曾来春  蒋蓁  李金铁  郑朝晖  朱小荣  冯建华  
【摘要】:正The AMS panel session invites a few experts from academy as well as the industry who are actively working in this area to have an open and free discussion on a couple of interesting and hot topics in the AMS testing area.The experts will share their insights and perceptions regarding a few of the topics such as the new opportunities for analog mixed signal testing professionals,how to reduce test test development cost,BIST of mixed signal ICs, protocol-oriented AMS testing,DFT in nanometer era,and technology market trends,etc.In the mean time,the audience will have the opportunities to ask their own questions to one or all the experts sit on the stage.The goal is to reveal some latest development in the industry as well as the academy,inspire the audience's participation in this area,and enhance the collaboration among different communities.

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