收藏本站
《第三届中国测试学术会议论文集》2004年
收藏 | 手机打开
二维码
手机客户端打开本文

变长序列重复播种内建自测试方案探讨

杨懿  周瑞华  黄维康  
【摘要】:本文提出一种变长序列重复播种的内建自测试方案,该方案使用重复播种技术,每个种子所产生的伪随机测试向量的序列长度不同。和文献[1,2]的等长序列重复播种的内建自测试方案一样,本文提出的方案也采用检测原始伪随机向量序列难以检测的故障的测试作为种子,并使用压缩技术把种子保存在ROM中。但由于重播种子产生的伪随机测试向量序列的长度可不同,因而, 测试向量总长度可比等长序列方案短,测试施加时间可减少,而增加的硬件开销甚少,且故障覆盖率和等长序列方案相同。本文给出了实现变长序列重复播种内建自测试方案的具体方法,并把它应用于ISCAS85基准电路。结果表明,本文提出的方案与等长序列重复播种的内建自测试方案比较, 平均至少能减少近22.9%的测试时间(最多达52%),而电路面积平均只增加1.4%。

手机知网App
【相似文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 谭永良;吴文仕;;存储芯片测试的研究[J];电子工业专用设备;2011年05期
2 ;探索科研新模式北京IC测试联合实验室成立[J];电源技术应用;2010年01期
3 张惠国;徐彦峰;曹正州;于大鑫;于宗光;;FPGA逻辑资源重配置测试技术研究[J];固体电子学研究与进展;2011年03期
4 谈恩民;詹琰;;结合预确定距离的BIST测试矢量优化[J];微电子学与计算机;2011年09期
5 欧阳一鸣;牛丽义;梁华国;;片上网络通信架构的BIST测试方法[J];电信科学;2011年08期
6 ;惠瑞捷推出半导体产业首创可扩充等级测试机 降低新一代集成电路测试成本[J];电子与电脑;2011年08期
7 张志超;侯立刚;吴武臣;;基于March C+算法的SRAM BIST设计[J];现代电子技术;2011年10期
8 王崧淼;;PWM器件的量产测试方案[J];中国集成电路;2011年08期
9 许川佩;胡旭;;一种片上网络路由测试方法研究[J];微电子学与计算机;2011年07期
10 吴孝银;;基于减少确定位的动态LFSR重新播种方法[J];宿州学院学报;2011年05期
中国重要会议论文全文数据库 前10条
1 杨懿;周瑞华;黄维康;;变长序列重复播种内建自测试方案探讨[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
2 崔伟;冯建华;;一种基于Loopback结构的RFIC内建自测试方法[A];第十四届全国容错计算学术会议(CFTC'2011)论文集[C];2011年
3 周敏;李少青;;CPU测试结构的设计和实现[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
4 邝继顺;靳立运;王伟征;尤志强;;减少自反馈测试硬件代价的两种方法[A];第六届中国测试学术会议论文集[C];2010年
5 吴京燕;陈大为;;数字集成电路测试设备(ATE)量值溯源技术研究[A];2001年电子测量新技术报告会论文集[C];2001年
6 王志功;刘新宇;;大会主席致辞[A];第五届中国测试学术会议论文集[C];2008年
7 梁华国;方祥圣;;一种基于折叠计数器优化播种的BIST方案[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
8 付祥;王达;李华伟;胡瑜;李晓维;;一种嵌入式存储器的内建自修复机制[A];第四届中国测试学术会议论文集[C];2006年
9 夏曙;曾来春;蒋蓁;李金铁;郑朝晖;朱小荣;冯建华;;头脑风暴-模拟和混合信号测试的机遇和挑战(英文)[A];第五届中国测试学术会议论文集[C];2008年
10 李翔宇;孙义和;芦颖僖;管曦萌;朱兴鸿;;集成电路芯片瞬时功耗测量-分析系统[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
中国重要报纸全文数据库 前10条
1 记者 张显峰;集成电路测试技术联合实验室成立[N];科技日报;2009年
2 梁红兵;中关村集成电路测试中心挂牌[N];中国电子报;2005年
3 邓卓明;中美合作成立集成电路测试产业化发展中心[N];北京科技报;2003年
4 记者 刘锋 通讯员 徐健;围绕IC产业建科技服务体系[N];科技日报;2005年
5 本版编辑 北京自动测试技术研究所所长 张东 肖钢;测试业:主体已形成 品种待丰富[N];中国电子报;2006年
6 刘彬;首届集成电路测试技术论坛在京举办[N];中国电子报;2008年
7 本报记者 梁红兵;探索科研运作新模式 北京IC测试联合实验室成立[N];中国电子报;2009年
8 ;北京自动测试所:树立品牌扩大市场[N];中国电子报;2007年
9 ;着力提升中国IC产业设计能力[N];中国电子报;2006年
10 梁红兵;IC测试业掀起盖头[N];中国电子报;2004年
中国博士学位论文全文数据库 前10条
1 朱敏;电子系统内建自测试技术研究[D];哈尔滨工业大学;2010年
2 徐磊;基于SOC架构的可测性设计方法学研究[D];清华大学;2002年
3 孙秀斌;混合信号电路故障诊断的内建自测试(BIST)方法研究[D];电子科技大学;2004年
4 杨德才;算术运算电路的通路时延故障测试[D];电子科技大学;2008年
5 肖继学;基于累加器的DSP数据通路的内建自测试技术的研究[D];电子科技大学;2007年
6 李杰;低功耗内建自测试(BIST)设计技术的研究[D];东南大学;2004年
7 李锐;低功耗内建自测试设计方法研究[D];东南大学;2005年
8 詹文法;系统芯片外建自测试技术研究[D];合肥工业大学;2009年
9 朱彦卿;模拟和混合信号电路测试及故障诊断方法研究[D];湖南大学;2008年
10 靖向萌;MEMS探卡的设计及制备工艺研究[D];上海交通大学;2008年
中国硕士学位论文全文数据库 前10条
1 宁康;多通道高精度集成电路直流参数测试[D];电子科技大学;2010年
2 姚佳;集成电路电光测试仪相关技术研究[D];吉林大学;2012年
3 赵龙;系统级芯片的可测性研究与实践[D];复旦大学;2008年
4 吴杰;集成电路测试运作与研析[D];上海海运学院;2001年
5 胡少飞;基于MT-6000系统级模拟与验证的技术研究[D];长沙理工大学;2012年
6 翟明静;基于March C+算法的存储器内建自测试自测试设计与仿真[D];哈尔滨理工大学;2009年
7 齐娜;适用于MRAM的集成电路测试方法研究[D];中国石油大学;2010年
8 程旺燕;基于等确定位切分的SoC内建自测试方法研究[D];合肥工业大学;2010年
9 王玺;模数混合信号系统级芯片的测试与可测性设计研究[D];湖南大学;2007年
10 马海燕;嵌入式存储器的测试方法研究与实现[D];东华大学;2010年
 快捷付款方式  订购知网充值卡  订购热线  帮助中心
  • 400-819-9993
  • 010-62791813
  • 010-62985026