表面分子自组装及反应的原子力显微镜研究
【摘要】:非接触式原子力显微术(NC-AFM)发展迅速,实现了对分子化学结构的原子级分辨成像以及分子间氢键的实空间观测。这种精细的局域成像与力谱测量能力使我们能够在原子水平上进行表面结构分析和化学识别,探索材料制备和化学反应的微观机理,为材料、物理、化学科学的相关研究提供了新的实验技术手段。我将介绍我们在分子自组装体系及相关反应研究中的进展,以及有关化学键原子力显微镜成像机制的探索。
【相似文献】 | ||
|
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
|
|||||||||||||||||||||
|
|
|||||||||||||||||||||
|
|
|||||||||||||||||||||
|