纳滤膜/电解质溶液体系的低频介电弛豫谱研究——极化机制和膜孔内电参数的计算
【摘要】：正介电谱方法因其对非均相体系的敏感性已被成功的应用到了很多膜/液体系。在研究电解质溶液中的纳滤膜时曾发现两个弛豫的介电谱,其中高频弛豫已被确定为由膜液间的界面极化引起并给予了充分的解析,而通常被认为是由膜孔中的对离子极化引起的低频弛豫至今尚未被研究过。
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