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《中国光学学会2010年光学大会论文集》2010年
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锥光干涉技术在光学晶体相关测量中的应用

高成勇  徐建强  王安凯  孙尚倩  周灿林  刘凤琴  
【摘要】:本文主要提出了一种利用锥光干涉技术测试光学晶体相关参数的基本方法。利用该技术测试了给定双光轴晶体Nd:LaVO4样品的定向切割精度及双光轴间的夹角,2β=26°;同时测定了负单轴晶体SBN60的折射率,n o=2.358,ne,2.340,与相关文献记录结果相吻合。
【作者单位】:山东大学物理学院
【分类号】:O734;O439

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【参考文献】
中国期刊全文数据库 前1条
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【共引文献】
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【二级参考文献】
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