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《中国光学学会2006年学术大会论文摘要集》2006年
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激光线源扫描法检测表面缺陷的实验研究

严刚  陆建  沈中华  倪晓武  
【摘要】:扫描激光源技术(SLS)是近年来检测表面微小缺陷的有效方法。这种方法是作为激发源的激光沿材料表面扫描,探测点固定在远场区域接收声表面波。当激光源扫描至缺陷近场区域时,缺陷自由边界的反射增强,信号幅度急剧增大,从而可以检测微小缺陷的位置,提取缺陷的有关信息。激光源扫描技术比传统的pich—catch和pulse—echo超声技术具有更高的信噪比,且具有非接触、适用于一些恶劣环境等许多优点,特别容易快速实现自动化扫描检测,检测缺陷定量准确。

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