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《光电技术与系统文选——中国光学学会光电技术专业委员会成立二十周年暨第十一届全国光电技术与系统学术会议论文集》 2005年
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光学薄膜附着力测量方法

张殷华  黄伟  张云洞  
【摘要】:附着力是光学薄膜的基本属性,直接影响到薄膜的环境稳定性、使用寿命和光学性能。附着力测量方法有多种,按在界面区域产生的应力类型,可将测试方法分成两大类:拉力法和剪切法。直接拉离、加速和冲击波等方法属于拉力法,而胶带、直接剪切、剥离和划痕等方法属于剪切法。本文介绍了各种测量方法的基本原理,分析和总结了其各自的优缺点以及大致的使用范围。

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